老化板系列
老化板类型 | 适合器件 | 试验种类 | PCB板 | PCB基板适合工作条件 |
集成电路老化板 | IC | 集成电路高温动态老化试验 / IC Burn-in | FR5 | -50℃ 〜180℃ |
正向寿命老化板 | 中小功率二极管、LED、光耦、稳压管、三极管、MOS管、IGBT、三端稳压器、晶闸管、桥堆 等器件 | 常温下：OPLIFE试验/稳态寿命试验/间歇寿命试验 | FR4 | -50℃ 〜130℃ |
高温寿命老化板 | 二极管、LED、光耦、稳压管、三极管、MOS管、 IGBT、三端稳压器、晶闸管、桥堆等器件 | 高温下：OPLIFE试验/稳态寿命试验/间歇寿命试验/HTOL | Polyimide | -60℃—240℃ |
高温反偏老化板 | 二极管、三极管、MOS管、IGBT、桥堆等器件 | HTRB/HTGB试验 | Polyimide | -60℃ 〜240℃ |
电容器 高温老化板 | 电容器 | 电容器高温耐久性老化试验 | Polyimide | -60℃ 〜240℃ |
高温高湿反偏老化板 | 二极管、三极管、MOS管、IGBT、桥堆等器件 | H3TRB试验 | Polyimide | 85℃ 85%湿度 |
高气压高温高湿反偏老化板 | 二极管、三极管、MOS管桥堆等器件 | HAST bias | Polyimide | 130℃ 90%湿度 2. 5个气压 |
