低速光耦高可靠老化系统

适用范围：

适用于多种封装的单、双、四光电耦合器进行恒流或恒功稳态老炼试验。

主要技术指标：

①、每路恒流源电流程控范围：1.0mA～100.0mA；误差：≤±1%+2LSB。

②、电流检测范围：1.0mA～100.0mA；误差： 1%±2LSB。

③、电压检测范围：0V～50.0V；误差： 1%±2LSB。

④、每路恒流源可以选择设置输入发光二极管恒流或输出光电三极管恒功老炼试验。

⑤、试验工位数：单光耦：80工位/通道；双光耦：40工位/通道；四光耦：20工位/通道。

⑥、高速负载超上限保护,减少被试验器件损伤。

⑦、具备光耦输入端定时换向。